ZEISS Axio Imager D2m er et avanceret kodet mikroskop specielt designet til materialeanalyse og industrielle applikationer. Med fremragende optik, fleksible kontrastteknikker og kodede funktioner sikrer mikroskopet ensartede og reproducerbare resultater, der opfylder kravene til præcise analyser af materialer og mikrostrukturer.

Højdepunkter:

• Kodede komponenter: Automatisk genkendelse af objektiver og filtermoduler reducerer fejl og optimerer workflows.
• Avanceret kontrast: Understøtter lysfelt, mørkfelt, DIC, C-DIC og polarisation for alsidige anvendelser.
• Ergonomisk design: Brugervenligt layout og komfortable justeringsmuligheder for effektiv betjening under lange sessioner.
• Integreret lysstyring: Automatisk tilpasning af lysstyrke og farvetemperatur for præcise og pålidelige resultater.
• ZEN-softwareintegration: Understøtter avancerede analysemoduler til kornstørrelse, fasefordeling og materialedefekter.

Anvendelsesområder:

• Materialeanalyse: Detektion af kornstrukturer, fasefordeling og mikrodefekter i metaller og andre materialer.
• Industriel kvalitetssikring: Analyse af belægninger, mikrostrukturer og materialestabilitet i produktionsmiljøer.
• Avanceret forskning: Ideel til detaljeret undersøgelse af anisotrope materialer og komplekse mikrostrukturer.